國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)

  GB/T 5594.1- -1985 《電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 氣密性試驗(yàn)方法》

  GB/T 8980 -1996 《高純氮》

  GB/T 9445 -200 《無損檢測(cè)人員資格鑒定與認(rèn)證》

  GB/T 12137 -2002 《氣瓶氣密性試驗(yàn)方法》

  GB 15849- -1995 《密封放射源的泄漏檢測(cè)方法》

  GB/T 2423.23- -1995 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Q：密封》

  GB/T 3163- -2007 《真空技術(shù)術(shù)語》

  GB/T 3164 -2007 《真空技術(shù)圖形符號(hào))

  GB/T 4844.1-1995 《工業(yè)氦氣》

  GB/T 12604.7- 1995 《無損檢測(cè)術(shù)語泄漏檢測(cè)》

  GB/T 11813- -2008 《壓水堆核燃料棒的氦質(zhì)譜檢漏》

  GB/T 13979 -2008 《質(zhì)譜檢漏儀》

  GB/T 1421193 《機(jī)械密封試驗(yàn)方法》

  GB/T 15823- -2009 《無損檢測(cè) 氦泄漏檢驗(yàn)》

  GB/T 16775 -1997 《低溫容器漏氣速率測(cè)定方法》

  GB/T 17230 -1998 《放射性物質(zhì)運(yùn)輸 包裝的泄漏檢測(cè)》

  GB/T 18193- +2000 《真空技術(shù) 質(zhì)譜檢漏儀校準(zhǔn)》

  GB/T 18443.3- -2001《低溫絕熱壓力容器試驗(yàn)方法  漏率測(cè)量》

  GB/T 18443.4 -2001《低溫絕熱壓力容器試驗(yàn)方法  漏放氣速率測(cè)量》

  GJB 65B 《電磁繼電器檢測(cè)方法 密封試驗(yàn)》

  GJB 128A -1997 《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 方法1071密封》

  GJB 144- -1986 《光學(xué)纖維面板真空氣密性檢驗(yàn)方法》

  GJB/Z 221- -2005 《軍用密封元器件檢漏方法實(shí)施指南》

  GJB 223- -1986 《航空無內(nèi)胎輪胎氣密性試驗(yàn)方法》

  GJB 360A-1996 《電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法112 密封試驗(yàn)》

  GJB/J 5366 -2005 《正壓漏孔校準(zhǔn)規(guī)范》

  GJB 548B 2007 《微電子器件和程序方法1014B 密封》

  GJB 573A- 1998 《引信環(huán)境與性能試驗(yàn)方法方法308 泄漏試驗(yàn)》

  GJB982.1-1990 《航空剎車胎試驗(yàn)方法氣密性能試驗(yàn)》

     GJB 9838.3-1990 《軍用橡膠薄膜試驗(yàn)方法氣密性試驗(yàn)和壓力試驗(yàn)》